TCVN 6989-2-3-2010 - Yêu Cầu Kỹ Thuật Đối Với Thiết Bị Đo Và Phương Pháp Đo Nhiễu Và Miễn Nhiễm
Thể loại: Tiêu Chuẩn, Quy Chuẩn Việt Nam
Sách ebook được sưu tầm từ Internet, Bản quyền sách thuộc về Tác giả & Nhà xuất bản. Nếu có điều kiện bạn hãy mua sách ủng hộ tác giả.
Link Sách ShopeeTải sách TCVN 6989-2-3-2010 - Yêu Cầu Kỹ Thuật Đối Với Thiết Bị Đo Và Phương Pháp Đo Nhiễu Và Miễn Nhiễm pdf miễn phí
tcvn 6989-2-3-2010 - yêu cầu kỹ thuật Đối với thiết bị Đo và phương pháp Đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô - phần 2-3 phương pháp Đo nhiễu và miễn nhiễm - Đo nhiễu bức xạtiêu chuẩn này qui định phương pháp đo hiện tượng nhiễu bức xạ trong dải tần từ 9 khz đến 18 ghz. các khía cạnh về độ không đảm bảo đo được qui định trong cispr 16-4-1 và cispr 16-4-2. theo iec guide 107, tiêu chuẩn này là tiêu chuẩn emc cơ bản để các ban kỹ thuật sản phẩm của iec sử dụng. như được công bố trong guide 107, các ban kỹ thuật sản phẩm có trách nhiệm xác định khả năng ứng dụng của tiêu chuẩn emc. ban kỹ thuật cispr và các tiểu ban kỹ thuật của cispr đã có chương trình phối hợp với các ban kỹ thuật sản phẩm trong việc đánh giá giá trị của các thử nghiệm emc riêng rẽ đối với các sản phẩm cụ thể.
- số hiệu tiêu chuẩn/standard number tcvn 6989-2-3:2010
- tên tiêu chuẩn/title (vietnamese) yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô. phần 2-3: phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm. Đo nhiễu bức xạ.
- năm ban hành/publishing year 2010
- tiêu đề (tiếng anh)/title specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods. part 2-3: methods of measurement of disturbances and immunity. radiated disturbance measurements.
- tình trạng/status active
- tương đương/adoption cispr 16-2-3:2010
