TCVN 8334-1-2010 - Phơi Nhiễm Trong Trường Điện Hoặc Trường Từ ở Dải Tần Số Thấp Và Tần Số
Thể loại: Tiêu Chuẩn, Quy Chuẩn Việt Nam
Sách ebook được sưu tầm từ Internet, Bản quyền sách thuộc về Tác giả & Nhà xuất bản. Nếu có điều kiện bạn hãy mua sách ủng hộ tác giả.
Link Sách ShopeeTải sách TCVN 8334-1-2010 - Phơi Nhiễm Trong Trường Điện Hoặc Trường Từ ở Dải Tần Số Thấp Và Tần Số pdf miễn phí
tcvn 8334-1-2010 - phơi nhiễm trong trường Điện hoặc trường từ ở dải tần số thấp và tần số trung gian - phương pháp tính mật Độ dòng Điện và trường Điện cảm ứng bên trong cơ thể người - phần 1 yêu cầu chungtiêu chuẩn này đưa ra các cách thức chứng tỏ sự phù hợp với các giới hạn cơ bản về phơi nhiễm của con người trong trường điện và trường từ tần số thấp và tần số trung gian được qui định trong các tiêu chuẩn hoặc hướng dẫn về phơi nhiễm ví dụ như các tài liệu của ieee và icnirp. tiêu chuẩn cơ bản này không nhằm thay thế các định nghĩa và qui trình đã được qui định trong các tiêu chuẩn hoặc các hướng dẫn về phơi nhiễm, như các tiêu chuẩn hoặc hướng dẫn của ieee hoặc icnirp, mà tập trung cung cấp các qui trình bổ sung để cho phép đánh giá sự phù hợp với các tài liệu đó.
- số hiệu tiêu chuẩn/standard number tcvn 8334-1:2010
- tên tiêu chuẩn/title (vietnamese) phơi nhiễm trong trường điện hoặc trường từ ở dải tần số thấp và tần số trung gian. phương pháp tính mật độ dòng điện và trường điện cảm ứng bên trong cơ thể người. phần 1: yêu cầu chung.
- năm ban hành/publishing year 2010-06-02, 908/qĐ-bkhcn
- tiêu đề (tiếng anh)/title exposure to electric or magnetic fields in the low and intermediate frequency range. methods for calculating the current density and internal electric field induced in the human body. part 1: general.
- tình trạng/status active
- tương đương/adoption iec 62226-1:2004
